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电子显微镜的基本结构特征

电子显微镜 电子显微镜有与光学显微镜相似的基本结构特征，但它有着比光学显微镜高得多的对物体的放大及分辨本领，它能将电子流作为一种新的光源，使物体成像，让人们观察微观世界。现在电子显微镜有扫描电镜、分析电镜、超高压电镜等，可对样品进行多方面的结构或结构与功能关系的深入研究，因此常用于生物、及微小粒子的观测。

光学部分(1)反光镜:一个可以转动的圆镜

光学部分 （1）反光镜：一个可以转动的圆镜，叫做反光镜。反光镜具两面，一面为平面镜，一面为凹面镜。其用途是收集光线。平面镜使光线分布较均匀。凹面镜有聚光作用，反射的光线较强，一般在光线较弱时使用。 （2）物镜：安装在转换器上，能将观察的物体进行次放大，是显微镜性能高低的关键性部件。每台显微镜上常备有几个不同倍数的物镜，物镜上所刻8×、10×、40×等就是放大倍数。从形态上看，物镜越长，放大倍数越高。 （3）目镜：由二、三片透镜组成，安装在镜筒上端，其作用是把物镜放大的物体实像进一步放大。在目镜上方刻有5×、10×、20×等为放大倍数．从外表上看，镜头越长放大倍数越低。显微镜的放大倍数，粗略计算方法为接目镜放大倍数与接物镜放大倍数的乘积。如观察时所用物镜为40×、目镜为10×，则物体放大倍数为40×10=400倍。 显微镜看到的是一个倒立而放大的虚像。

偏光镜检术的方式及要求

偏光镜检术的方式 正相镜检：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜，同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。 锥光镜检：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。 显微镜的分类和特点 偏光显微镜在装置上的要求 1、光源：采用单色光，因为光的速度，折射率和干涉现像因波长的不同而有差异。 2、目镜：要带有十字线的目镜。 3、聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。 4、伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。

电子显微镜(scanningprobemicroscope)

现今的电子显微镜和扫描探针显微镜（scanning probe microscope，SPM）具有极高的分辨率，可以“看到”单个原子和化学键，这一尺度范围大概为0.5埃（1埃 为0.1纳米，等于10-10米）。以这种分辨率来观察材料，如石墨烯、催化剂和氧化物等，能够揭示这些材料的结构，以及晶体缺陷对材料性质的影响。