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带你了解现代科研中的显微镜SEM

扫描电子显微镜 　　扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM）放大倍数（不同型号有差异）约2~200000，连续可调，分辨率可达几纳米。 带你了解现代科研中的显微镜 　　SEM 主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应【当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）】，其中主要是样品的二次电子发射。 　　二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。

带你了解现代科研中的显微镜TEM

透射电镜和高分辨率透射电镜 透射电子显微镜（Tran***ission electron microscope，TEM）以及HRTEM(High Resolution Tran***ission Electron Microscope )高分辨率的透射电镜，分辨率可达0.2nm。 带你了解现代科研中的显微镜 　　TEM是发展较为成熟同时也相当复杂的电子显微镜，当时为了找到波长更短的“光”以达到更高的分辨率，1932年被发明。其成像原理与光学显微镜几乎相同（但还是不同），可以说是用电子束代替可见光的手段。

偏光显微镜的分类和特点

偏光显微镜 偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨清楚，也可用染色发来进行观察，但有些物体则不能观察，必须利用偏光显微镜。 显微镜的分类和特点 偏光显微镜的特点：就是将普通光改变为偏光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射或双折射性。双折射性是晶体的基本特性，因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物，化学等领域。